国家保密科学技术研究所

国家保密科学技术研究所

首页

|

研究所介绍

|

|

|

|

《保密科学技术》

|

国家保密标准

|

|

信息保密专委会

|

|

您所在的位置：国家保密科学技术研究所 > 电磁泄漏发射屏蔽机柜性能测试方法研究

电磁泄漏发射屏蔽机柜性能测试方法研究

作者：李敏　胡延军　苗春卫　　作者单位：国家保密技术研究所　　出版年份：2004　　关键词：无

本文对屏蔽机柜性能评价的几种测试方法进行了探讨。

国家保密科学技术研究所　版权所有 ICP京05020587
地址：北京海淀区交大东路甲56号邮编：100044 联系电话：（010）82210909
Institute of National Security Science and Technology